作業計画・作成状況 改正 基盤技術

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PS-030-0140
作業計画・作成状況
2024 年 10 月 08 日現在
規格番号
規格名称
ICS番号
作業
段階
対応国際規格
作成団体
担当窓口
A0204 地質図-記号,色,模様,用語及び凡例表示 1 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 a
A0205 ベクトル数値地質図-品質要求事項及び主題属性コード 1 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 a
B7502 マイクロメータ 1 日本精密測定機器工業会 a
B7603 ホッパースケール 17.060 5 OIML R 107-1 経済産業省 a
B7604-1 充塡用自動はかり-第1部:計量要件及び技術要件 17.100 5 OIML R 61-1 経済産業省 a
B7606-1 コンベヤスケール-第1部:計量要件及び技術要件 53.040.10 5 OIML R 50-1 経済産業省 a
B7607 自動捕捉式はかり 17.060 5 OIML R 51-1 経済産業省 a
B7610 重錘形圧力天びん 1 (認)一般財団法人 日本規格協会 a
B7616 重錘形圧力天びんの使用方法及び校正方法 1 (認)一般財団法人 日本規格協会 a
B7755 金属材料のシャルピー衝撃試験-計装化装置 1 一般社団法人日本試験機工業会 a
B8572-1 燃料油メーター-取引又は証明用-第1部:自動車等給油メーター 17.040.30;75.200 5 OIML R 117-1,OIML R 117-2 一般社団法人日本計量機器工業連合会 a
B8572-4 燃料油メーター-取引又は証明用-第4部:定置燃料油メーター,大型車載燃料油メーター及び簡易燃料油メーター 17.040.30;75.200 4 OIML R 117-1,OIML R 117-2 一般社団法人日本計量機器工業連合会 a
K0148 表面化学分析?全反射蛍光X線分析法(TXRF)によるシリコンウェーハ表面汚染元素の定量方法 1 一般社団法人表面化学分析技術国際標準化委員会 a
K0155 表面化学分析-二次イオン質量分析法-単一イオン計数飛行時間形質量分析器における強度軸の線形性 1 一般社団法人表面化学分析技術国際標準化委員会 a
K0160 表面化学分析-シリコンウェーハ表面からの金属の化学的回収方法及び全反射蛍光X線(TXRF)分析法による定量方法 1 一般社団法人表面化学分析技術国際標準化委員会 a
P8113 紙及び板紙-引張特性の試験方法-第2部:定速伸張法(20mm/min) 1 紙パルプ技術協会 a
P8215 パルプ-極限粘度数測定方法-銅エチレンジアミン法 85.040 2 ISO 5351 紙パルプ技術協会 a
Z6016 紙文書及びマイクロフィルム文書の電子化プロセス 1 公益社団法人 日本文書情報マネジメント協会 a
Z6017 電子化文書の長期保存方法 35.240.30 5 公益社団法人 日本文書情報マネジメント協会 a
Z8000-1 量及び単位-第1部:一般 01.060 2 ISO 80000-1 一般社団法人 日本計量振興協会 a
Z8000-6 量及び単位-第6部:電磁気 01.060 2 IEC 80000-6 一般社団法人 日本計量振興協会 a
Z8830 ガス吸着による粉体(固体)の比表面積測定方法 1 一般社団法人 日本粉体工業技術協会 a
Z8832 粒子径分布測定方法-電気的検知帯法 1 一般社団法人 日本粉体工業技術協会 a
Z8890 粉体の粒子特性評価 - 用語 1 一般社団法人 日本粉体工業技術協会 a
Z8910 集じん用ろ布の試験方法-ろ布耐久性測定用のサンプリング方法及び試験方法 1 一般社団法人 日本粉体工業技術協会 a
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